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 技术文档下载 >> APTOR AT5608D产品说明

    本设备为并行测试仪器,是以并行测试技术为支撑的新一代测试系统,目标是解决目前自动化测试系统中存在的测试效率低,投入成本大,测试程式可通用兼容性差等问题。 并行测试技术属新一代测试技术范畴,是支撑AT5608D-F射频测试系统的新技术之一,根植于并行处理技术,在并行测试程式的控制下多个被测对象同时进行测试,相比传统顺序测试技术,它通过对系统资源的优化利用可以大幅度提高测试效率,提高测试资源利用率,大幅度降低测试成本。


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